光纖缺陷檢測(cè)

深度學(xué)習(xí)在光纖缺陷類項(xiàng)目中的運(yùn)用

在光學(xué)缺陷檢測(cè)類項(xiàng)目中，因光纖透明體積小并且長(zhǎng)，同時(shí)缺陷類型、形狀、大小等不定因素，加大了缺陷檢測(cè)類項(xiàng)目的難度。我們通過(guò)用深度學(xué)習(xí)，提前對(duì)不同類型、形狀、大小的缺陷圖片標(biāo)記處缺陷位置，生成缺陷類庫(kù)，在實(shí)際運(yùn)行過(guò)程中，將圖片與類庫(kù)中的缺陷進(jìn)行比對(duì)即可快速得出結(jié)果。通過(guò)不斷的豐富缺陷類庫(kù)，慢慢降低誤判及漏判率，使系統(tǒng)趨于穩(wěn)定狀態(tài)，我們已經(jīng)完美的解決了光纖的外觀缺陷檢測(cè)，已經(jīng)在線運(yùn)行了3年時(shí)間。